prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2001

• Determination of Thicknesses and Spectral Dependences of Refractive Indices of Non-Absorbing and Weakly Absorbing Thin Films Using the Wavelengths Related to Extrema in Spectral Reflectances

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Vacuum, rok: 2001, ročník: 61, vydání: 1

• Měření základních statistických veličin náhodné povrchové drsnosti pomocí mikroskopie atomové síly

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr

  Článek v odborném periodiku

  Československý časopis pro fyziku, rok: 2001, ročník: 51, vydání: 1

• Optical Characterization of Diamond-like Carbon Films

  FRANTA Daniel ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan JANČA Jan

  Článek v odborném periodiku

  Vacuum, rok: 2001, ročník: 61, vydání: 2-4

• Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan FRUMAR Miloslav JEDELSKÝ Jaroslav

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2001, ročník: 175-176, vydání: 1

• Optical characterization of nonabsorbing and weakly absorbing thin films with the wavelengths related to extrema in spectral reflectances

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Applied Optics, rok: 2001, ročník: 40, vydání: 31

• Study of Thin Film Defects by Atomic Force Microscopy

  KLAPETEK Petr FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek ve sborníku

  Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods, rok: 2001

• Vliv diskrétní Fourierovy transformace na zpracování AFM dat

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Československý časopis pro fyziku, rok: 2001, ročník: 51, vydání: 1

2000

• Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr

  Článek v odborném periodiku

  Mikrochim. Acta, rok: 2000, ročník: 132, vydání: 1

• Analysis of thin films by optical multi-sample methods

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2000, ročník: 50, vydání: 4

• Atomic force microscopy measurements of surface roughness quantities important in optics of surfaces and thin films

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr

  Článek ve sborníku

  Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy, rok: 2000