Informace o projektu
Studium morfologie polovodičových multivrstev pomocí rtg rozptylu
- Kód projektu
- GP202/05/P286
- Období řešení
- 1/2005 - 12/2007
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Grantová agentura ČR
- Postdoktorské projekty
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
- Klíčová slova
- rtg rozptyl, multivrstvy, SiGe, kvantové tečky
Heteroepitaxní systémy založené na bázi polovodičových multivrstev jsou dlouhodobě studovány pro své vyjímečné elektrické a optické vlastnosti, které závisí na jejich strukturní kvalitě. V rámci tohoto projektu budeme studovat morfologii dvou typůsložitý ch multivrstev z materiálů typu IV a III/V pěstovaných metodou MBE. Prvním typem budou tlusté multivrstvy s velkým počtem neperiodických tenkých vrstev SiGe/Si pěstovaných za účelem návrhu a konstrukce kaskádového laseru na bázi křemíkovétechnologie. Dru hým typem budou multivrstvy se samouspořádanými strukturami kvantových teček a drátů. Z morfologických vlastností nás budou zajímat zejména stavy jednotlivých vrstev (tloušťky, indexy lomu), rozhraní (korelační funkce) a kvantovýchobjektů (prostorové usp ořádání). Pro analýzu zkoumaných vzorků použijeme metody rtg reflexe a difrakce s laboratorními a sychrotronovými zdroji. Naměřená data budou vyhodnocena na základě zformovaných růstových modelů.
Publikace
Počet publikací: 10
2007
-
In situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Ge-rich Si/SiGe multilayers using x-ray scattering
Semicond. Sci. Technol., rok: 2007, ročník: 22, vydání: 4
-
Interdiffusion in SiGe alloys studied by x-rays
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2007, ročník: 14, vydání: 2
2006
-
In-situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Si cascade structures
Synchrotron Radiation in Natural Sciences, rok: 2006, ročník: 5, vydání: 1-2
-
IN-SITU INVESTIGATIONS OF SI AND GE INTERDIFFUSION IN SI CASCADE STRUCTURES
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2006, ročník: 13, vydání: 3
-
IN-SITU INVESTIGATIONS OF SI AND GE INTERDIFFUSION IN SIGE MULTILAYERS AND CASCADE STRUCTURES
XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, rok: 2006
-
X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and multilayers thickness: preliminary results of the first world Round-Robin Test
XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, rok: 2006
2005
-
High Temperature in-situ Investigation of Si/SiGe Multilayers and Cascade Structures
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2005, ročník: 12, vydání: 2
-
HIGH TEMPERATURE INVESTIGATION OF SiGe/Si-BASED CASCADE EMITTERS IN THE FAR-INFRARED
Rok: 2005, druh: Konferenční abstrakty
-
Intersubband absorption of strain compensated, Si1-xGex valenceband quantum wells with 0.7<=x<=0.85
J. Appl. Phys., rok: 2005, ročník: 98, vydání: 4
-
Structural studies of strain-symmetrised Si/SiGe structures grown by molecular beam epitaxy
Journal of crystal growth, rok: 2005, ročník: 278, vydání: 1-4