Informace o projektu
Analýza optických vlastností solárních článků
- Kód projektu
- FT-TA3/142
- Období řešení
- 7/2006 - 12/2009
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR
- TANDEM
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
- Spolupracující organizace
-
Solartec s.r.o.
Publikace
Počet publikací: 10
2010
-
Near-field optical microscopy simulations using graphics processing units
Surface and Interface Analysis, rok: 2010, ročník: 42/2010, vydání: 6
-
Rough surface scattering simulations using graphics cards
Applied Surface Science, rok: 2010, ročník: 2010, vydání: 256
2009
-
Combined method of spectroscopic ellipsometry and photometry as an efficient tool for the optical characterisation of chalcogenide thin films
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, rok: 2009, ročník: 11, vydání: 12
-
Precise measurement of thickness distribution of non-uniform thin films by imaging spectroscopic reflectometry
Proceedings of IMEKO XIX World Congress, rok: 2009
2008
-
Characterization of near field optical microscope probes
Surface and Interface Analysis, rok: 2008, ročník: 40, vydání: 1
-
Influence of cross-correlation effects on the optical quantities of rough films
Optics Express, rok: 2008, ročník: 16, vydání: 11
-
Near field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces
Applied Surface Science, rok: 2008, ročník: 254, vydání: 12
-
Near-field scanning optical microscope probe analysis
Ultramicroscopy, rok: 2008, ročník: 108, vydání: 7, DOI
-
Optical characterization of non-stoichiometric silicon nitride films
physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5
2007
-
Electromagnetic field distribution modelling in microlenses fabrication process
Journal of Physics and Chemistry of Solids, rok: 2007, ročník: 68, vydání: 5-6