Project information
Výzkum a vývoj nových technologií výroby bipolárního tranzistoru s izolovaným hradlem (TIGBT)
- Project Identification
- TH01010419
- Project Period
- 1/2015 - 12/2017
- Investor / Pogramme / Project type
-
Technology Agency of the Czech Republic
- EPSILON
- MU Faculty or unit
- Central European Institute of Technology
- Cooperating Organization
-
Brno University of Technology
ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o.
- Responsible person Ing Adam Klimsza, Ph.D.
Výzkum a vývoj pokročilé substrátové desky se SOI strukturou pro použití v TIGBT technologii.
Výzkum a vývoj výrobního procesu technologie TIGBT pro redukci vodivostních a spínacích ztrát.
Výzkum a vývoj nové generace TIGBT pro náročné aplikace.
Na SOI substrátu připraveném ve výrobní lince CZ2 bude vyvíjen vyrobní postup aktivní stuktury TIGBT součástky s použitím stávajících zařízení dostupných ve výrobní lince polovodičů CZ4. Veškeré mezioperační kontroly v průběhu výrobního procesu budou provedeny na měřicích zařízeních, které jsou rovněž dostupné v CZ4. Během vývoje vzniknou na výrobních zařízeních nové operační recepty potřebné pro zpracování SOI substrátů a/nebo pro vytvoření aktivní struktury TIGBT se sníženou vstupní kapacitou. Měření elektrických parametrů dokončených součástek bude provedeno rovněž s použitím stávajících měřících zařízení dostupných na výrobní lince CZ4.
Analýzy kvality povrchu křemíkových desek budou provedeny s použitím AFM mikroskopu u partnera projektu (VUT).
Publications
Total number of publications: 4
2019
-
Assessing Carrier Recombination Processes in Type-II SiGe/Si(001) Quantum Dots
Annalen der Physik (Berlin), year: 2019, volume: 531, edition: 6, DOI
2016
-
Type-II InAs/GaAsSb/GaAs Quantum Dots as Artificial Quantum Dot Molecules
ACTA PHYSICA POLONICA A, year: 2016, volume: 129, edition: 1A, DOI
2015
-
Excitonic fine structure splitting in type-II quantum dots
Physical Review B, year: 2015, volume: 92, edition: 19, DOI
-
Polarization anisotropy of the emission from type-II quantum dots
Physical Review B, year: 2015, volume: 92, edition: 24, DOI