Informace o projektu
Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
- Kód projektu
- GA202/98/0988
- Období řešení
- 1/1998 - 1/2000
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Grantová agentura ČR
- Standardní projekty
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
- Spolupracující organizace
-
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
- Odpovědná osoba RNDr. Pavel Pokorný
- Odpovědná osoba prof. RNDr. Miloslav Ohlídal, CSc.
Cílem je formulace nových teoretických přístupů umožňujících v rámci perturbační a difrakční teorie vyjádřit vztahy pro optické charakteristiky drsných systémů v koherentně i nekoherentně rozptýleném světle. Teoretické výsledky budou srovnány s výsledky měření provedenými pro vybrané vrstevnaté systémy. Dalším cílem je vývoj analytických metod dovolujících určovat optické a statistické parametry drsných vrstevnatých systémů. Dále bude provedeno srovnání nové metody perturbační teorie a teoretických přístupů používaných pro popis interakce rtg záření s drsnými vrstevnatými systémy. Budou zkoumány možnosti využití tohoto optického přístupu v rtg oblasti. Kombinace optických a rtg metod bude použita pro úplnou analýzu různých vrstevnatých systémů.
Publikace
Počet publikací: 34
1998
-
Optical parameter analysis of thin absorbing films measured by the photovoltage method
Acta physica polonica A, rok: 1998, ročník: 94, vydání: 3
-
Srovnání výsledků měření drsnosti povrchu dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou
Jemná mechanika a optika, rok: 1998, ročník: 43, vydání: 4
-
Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries
Optics Communications, rok: 1998, ročník: 147, vydání: 1
-
Teaching of modern measurement methods
Rok: 1998, vydání: Vyd. 1., počet stran: 4 s.